Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200 наиболее востребован на производстве полупроводников, жидкокристаллических панелей и солнечных батарей.
Микроскоп выпускается в двух модификациях.
Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200NA - предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и в поляризованном свете (для работы в отраженном свете).
Характеристики:
- моторизованный 6-ти позиционный револьвер с центровкой объективов; есть возможность подключения моторизированной системы фокусировки, автоматическое управление полевой и апертурной диафрагмами;
- три типа осветителей: галогенный 100 Вт (150 Вт) и ксеноновый 75 Вт;
- специализированный столик с перемещением по осям XY 205 х 205 мм и набором вставок;
- управление микроскопом вынесено на переднюю панель; имеется возможность подключения дистанционного пульта, что в совокупности с автоматической системой подачи образцов позволяет построить полностью автоматизированный комплекс контроля качества.
Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200D - предназначен для проведения исследований в светлом и темном поле, методом ДИК и в поляризованном свете (для работы в отраженном и проходящем свете).
Характеристика:
- моторизованный 6-ти позиционный револьвер с центровкой объективов и ДИК слотом, встроенная моторизированная система фокусировки, автоматическое управление полевой и апертурной диафрагмами;
- галогенный осветитель 100 Вт с набором нормализующих и светопропускающих фильтров (NCB, GIF, ND);
- специализированный столик с перемещением по осям XY 205х205 мм. (для проходящего света 150х150 мм) и набором вставок;
- управление микроскопом вынесено на переднюю панель.
Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200 предназначен для контроля полупроводниковых пластин, печатных плат, фотошаблонов, сеток, трафаретов и различных подложек.
Благодаря высокой степени автоматизации микроскопа Eclipse L200 значительно сокращается время на исследование одного образца, что в итоге значительно увеличивает производительность.
Специально разработанная линейка универсальных план флюорит объективов с высокими числовыми апертурами обеспечивают потрясающе четкие и высококонтрастные изображения с минимумом засветок, при больших рабочих расстояниях.
Благодаря разработке новой линейки объективов с использованием линзы Френеля для работы на сверхбольших расстояниях удалось значительно увеличить рабочее расстояние, при этом парфокальное расстояние стало меньше, размеры и вес объективов также уменьшились.
Многолетний опыт и тесное сотрудничество со специалистами в разных областях промышленности, помогли разработать удобную и эргономичную модульную конструкцию микроскопа Eclipse L200. Специальное антистатическое покрытие предотвращает попадание инородных частиц на образец.
Механизм управления предметным столом для прецизионного перемещения по осям XY расположен так, что позволяет управлять перемещением стола и фокусировкой микроскопа одной рукой.
Разница между микроскопами Eclipse L300 и Eclipse L200 только в размерах предметного стола и, как следствие, в возможности проводить инспекцию пластин большей площади.
Инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200 - это незаменимый инструмент для контроля качества полупроводниковых пластин.
